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VIDI云点探针产品简介

发布日期:2019-03-28

探针用于所有电子电路的导通检测。探针有如下特点:
1.插损小,驻波低,性能稳定。
2.可解决低端探针产品在测试过程中出现假性开路(假数)、电阻不稳定、寿命短、接触不良、产生电火花、、针头变黑快、容易弯曲和磨损等缺点。

3.改善测试效率和降低生产重测成本。

云点探针 云点双头探针 云点探针

探针主要类型与用途

探针主要类型与用途


探针材质说明

探针材质说明


探针适用方法

①将探针针套压入树脂板材的孔中(请使用粘接剂填埋间隙)。

②对针套进行配线连接(请勿使焊锡进入针套内部)。

③插入探针 (请勿用力按压探针前端针轴部致探针受损或性能降低)。


探针选型

①根据IC封装的引脚间距大小来决定针套的管径,避免安装时出现干涉。

②根据IC封装的型式选用合适的针轴类型。

③无铅封装的探针接触点表面硬度较高,尽量选用弹力较大的探针、针轴材质较硬的SK4,以刺穿无铅锡球表面。


使用注意事项

(1)一般环境条件

①使用环境温度为10~40℃,湿度为30%以下。

②无粉尘、无腐蚀性气体、无油分。

(2)行程条件

①只能承受轴向负载,不能承受横向负载。

②超出规定行程(全行程的2/3)会显著缩短探针的寿命。

③以高于60次/min(等速)的速度移动,可能降低探针的寿命。

(3)电流施加条件

①请在规定的行程内、与被测触点接触且处于静止的状态下施加电流。

②如果在按照规定的行程条件,但不与被测触点接触的状态下就施加电流,可能会显著降低探针寿命。

③探针因老化等原因,可能不能满足容许电流,设计时请确保实际使用时具备足够的余量。

(4)电压施加条件

①请在规定的行程内、与被测触点接触且处于静止的状态下施加电压。

②请在与被测触头已接触的情况下施加电压。否则在刚要接触时会引起放电,导致探针损坏。
③向探针施加高电压时,请严格遵守电流和电压的施加条件,并注意避免放电现象以及放电时产生的瞬间巨大电流。
(5)额定电流

额定电流为上述条件(一般环境、行程、电流和电压的施加下),1分钟内连续流过电流的最大值。

(6)接触电阻

接触电阻为上述条件(一般环境、行程、电流和电压的施加下),给探针通入10mA的电流,使其与纯银端子接触而测得的代表值。

(7)压入用安装孔尺寸

为参考值,会因树脂板的材质及板厚而异。请参考探针座压入部的尺寸进行设计。

探针前端形状选择范例

探针前端形状选择范例











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